价格:￥0.00/件
起订:1件
供应:10000件
发货:30天内

发送询价

各种各样的观察方法，可自由使用
快速简便地获取观察需要的图像
工业显微镜观察方法的理想之选，奥林巴斯数码显微镜DSX510可提供各种各样的观察方法，呈现给用户对TALL端的光学系统所期望的TALL分辨率图像。更多详细内容请搜索。
BF
明场观察——
普遍的显微镜观察方法  DF
暗场观察——
鉴别缺陷的适合方法。
从样品侧面照明以突出瑕疵。  MIX (BF + DF)
明场+暗场组合观察——
同时使用明场和暗场，将明场
观察的简便性和暗场观察对缺
陷的突出效果结合在一起。  DIC
微分干涉观察——
检查不平坦表面或
纳米缺陷的理想之选。  PO
偏振光观察——
消除基板眩光的重要技术，
以精确地呈现样品的表面特征。

仅需点击一下鼠标便可选择观察方法
仅需点击一下鼠标便可选择几乎所有的显微观察方法，奥林巴斯数码显微镜DSX510 使选择正确的观察方法变得简单。无需复杂的调整——仅需简单的在观察方法（明场、暗场、MIX [明场 + 暗场]、微分干涉、偏振光）之间选择，便可呈现满足精确观测所需的TALL品质图像。